LED/OLED特性量測系統:

我們提供完整的系統來協助客戶完成對於LED/ OLED之光通量(流明)、亮度(nit)、光頻譜分佈、主波長、峰波長、色座標、及亮度相對於角度之分佈圖。

我們亦提供完整以分光卡來量測LED頻譜特性之解決方案，其中MCD之量測更是為絕對值而非相對值：

按此下載LED光性電性測試系統介紹資料。

按此下載LED 3D視角量測系統規格書。

按此下載LED特性量測系統規格書。

高功率LED測試治具。

 

以下系統示意圖中之編號所代表之儀器：

1. 高精度電流錶

2.待測光源/元件

3.積分球

4. 分光儀

5.個人電腦 

6.電源供應器

7. 矽偵測器

8.視函數偵測器

9.單軸/雙軸步進馬達

10. 步進馬達控制器

11. 光箱

12. Iris

13. 針孔治具

 

 

1. LED/OLED 光通量(流明)量測系統示意圖及其工作原理：

由電源供應器點亮待測之LED元件，而待測之LED元件所發出之光通量則由積分球所收集並由視函數偵測器偵測其光通量，而視函數偵測器之輸出值，電流，則由電流錶讀出；由讀出之電流即可換算出該LED之光通量。詳細之流明量測方法請參考....這裡

2. LED/OLED 頻譜分佈色座標主波長峰波長分析系統示意圖：

由電腦控制之電源供應器將待測之LED點亮，而LED所發射出之光線則被導入分光儀，LED發射出之光源在分光儀內被分解成其所組成之各波長光線；並由電腦控制分光儀輸出特定之成分波長 ，由矽偵測器偵測此波長之強度並由電流錶輸出資料至電腦中；如此電腦可紀錄並分析各組成光源之強度(即可得到光源之頻譜)；並由此資料可計算出色座標、主波長、及峰波長。

3. LED 之角度亮度分佈量測系統示意圖:

視函數偵測器固定於待測LED元件前之30公分處，以測得該點之亮度；當點亮待測LED之後，可由電腦經由步進馬達控制器來控制待測LED，使其作1軸或2軸之旋轉，進而可測得該LED在各個不同角度所散發出之光線強度，並由電腦收集該資料並輸出亮度對不同角度之圖。

4.照明用高功率LED二維亮度量測系統:

高功率LED應用於照明方面之市場目前正蓬勃發展,有鑑於此,本公司特地開發出高功率LED之二維亮度量測系統可量測出以下之資料,如有問題,歡迎與我們連絡!!

 

 

 

 

 

5. OLED 之輝度量測系統示意圖：

將針孔治具貼合於視函數偵測器之前方，並將此結合元件作輝度之校正，校正完成後點亮待測之 OLED，即可由電流錶讀出並換算成待測OLED元件該處之輝度 (nit, CD/m2 )。

　

　........Back to Product