紫外線/可見光/矽偵測器


我們提供高品質之紫外線(320~380nm)可見光(視函數偵測器400~680nm)及矽偵測器(320~1100nm) 請選擇適合您使用之偵測器

紫外線偵測器    視函數偵測器   矽偵測器

  

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紫外線偵測器 :  

採用大受光面積及高線性響應之進口矽偵測器再加上濾光片將不需要之波長濾除

下載紫外線偵測器規格書.PDF

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視函數偵測器 (不知道它作什麼用嗎?請按這裡):  

採用大受光面積及高線性響應之進口矽偵測器加上精密設計之濾光片使其頻譜響應相當接近人眼對亮度之響應(CIE曲線)其頻譜與CIE曲線之積分誤差(f1')可低於3%

下載視函數偵測器規格書.PDF

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矽偵測器 :  

內部採用大受光面積及高線性響應之進口矽偵測器以確保其高響應度 

下載矽偵測器規格書.PDF

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