光偵測器特性量測系統

光偵測器特性量測系統:

我們提供可量測光偵測器頻譜響應及靈敏度之系統。

以下系統示意圖中之編號所代表之儀器：

1. 光偵測器頻譜響應量測系統簡圖：

在量測待測元件之前，需先執行系統校正的動作；將一已知頻譜響應之矽偵測器置於分光儀之輸出端，量測並記錄此矽偵測器對此光源各組成波長之響應強度；然後再以待測偵測器來量測相同光源組成波長之響應強度，將兩者所測得之值相除並乘以矽偵測器已知之頻譜響應，即可得到待測偵測器之頻譜響應。